設備:半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)ITC57300
廠商:ITC
用途:用于測試 Si/SiC/GaN基Diode,IGBT,MOSFET動態(tài)交流參數(shù)
測試標準:GJB 128B-20XX;IEC 60747-8-2010;MIL_STD_750F
技術指標:
1200V/100A,短路電流2500A
測試功能單元:
C57210-R 開關特性測試單元(阻性負載)
ITC57220 反向恢復特性測試單元
ITC57230 柵電荷特性測試單元(MOS)
ITC57240 開關特性測試單元(感性負載)
ITC57250 短路特性測試單元
地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓
電話:0769-33882377
郵箱:nfjc@cwbg-nf.com
傳真:0769-23078230